未知物成分分析-復(fù)雜未知物剖析

中國科學(xué)院廣州化學(xué)研究所分析測(cè)試中心

事業(yè)部---卿工--13113316131

　　中科院專業(yè)成分分析，未知物成分分析中心，第三方檢測(cè)中心

　　未知物剖析是指從未知物的剖析需求出發(fā)，綜合考慮并采取不同的分離、提純的物理、化學(xué)的技術(shù)和方法將未知物樣品中的各個(gè)組分分離開并進(jìn)行純化，然后分別采用不同的分析儀器設(shè)備對(duì)其進(jìn)行分析、鑒定并終確定其未知樣品的名稱、含量的方法。

　　在科技日益發(fā)展的今天，未知物剖析可以在各行各業(yè)發(fā)揮著重大作用：

　　1未知物剖析為科研機(jī)構(gòu)的進(jìn)一步研究提供事實(shí)依據(jù)；

　　2未知物剖析可以為工廠的產(chǎn)品配方研究、產(chǎn)品開發(fā)提供科學(xué)依據(jù)、為企業(yè)管理層做決策提供重要的參考信息；

　　3未知物剖析可以為工業(yè)生產(chǎn)改進(jìn)完善生產(chǎn)工藝提供重要的科學(xué)指引；

　　4未知物剖析為企業(yè)引進(jìn)、消化吸收再創(chuàng)新提供有力的科學(xué)依據(jù)及強(qiáng)大的技術(shù)支撐。

· 光學(xué)顯微鏡(OM)檢查

· 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)

· 俄歇電子能譜 (AES, Auger)

· X射線光電子能譜/電子光譜化學(xué)分析儀(XPS/ESCA)

· 二次離子質(zhì)譜(SIMS)

· 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)

· X射線熒光分析(XRF)

· 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡(AFM)

· 激光共聚焦顯微鏡(CLSM)